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亥姆霍茲線圈的測量原理和特點(diǎn)？
發(fā)布時(shí)間：2014-09-17 新聞來源：【高斯計(jì)_特斯拉計(jì)_霍爾探頭】生產(chǎn)廠家
用亥姆霍茲線圈測量磁通，近年來國內(nèi)永磁體生產(chǎn)廠家廣泛的采用這種方法對批量產(chǎn)品進(jìn)行檢測。亥姆霍茲”線圈為適應(yīng)多種尺寸規(guī)格的產(chǎn)品，因而線圈框架較大，包圍的面積也大。與緊密線圈法相比，在相同的匝常數(shù)情況下，亥姆霍茲裝置測得的值要低。但是，在一般批量測量時(shí)，其著眼點(diǎn)是判定產(chǎn)品合格與否，對具體值不關(guān)注。例如：對被測磁體的磁通為1320為合格，而在亥姆霍茲線圈中測得815也是無關(guān)緊要的，只要將合格品要求的上、下限按新的比例要求降下來即可。但值得注意的是，由于目前的磁通表大約精度都在0.5%～5%之間，為了發(fā)揮表的檢測精度，用亥姆霍茲線圈裝置測量樣品時(shí)，必須顯示三位或三位以上有效數(shù)字，這可以用選擇不同的量程檔位及改變亥姆霍茲線圈匝數(shù)相結(jié)和來實(shí)現(xiàn)。
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